HOMMEL TESTER W55

Yüzey Pürüzlülük Ölçüm Cihazı

• Genel pürüzlülük (R), profil (P) ve dalgalılık (W)   parametrelerinin tümünün ölçümü ve grafik olarak görüntülenmesi
•

- roughness DIN EN ISO 4287
- core roughness DIN EN ISO 13565
- motif parameters DIN EN ISO 12085
- roughness parameter JIS B0601

• Standart USB printer ile ölçüm rapor çıktıları alınabilir.
• Ölçüm raporları pdf formatında kaydedilebilir
• Teknik özellikler:

- 10" renkli TFT dokunmatik ekran ve keyboard
- LAN arayüz
- 4 USB girişi
- Güç Ünitesi : 110-230V
- 1 adet memory stick dahil
 

- Çeşitli travers üniteleriyle çalışabilme

• LV16
• waveline 20
• waveline 60

• Ölçüm aralığı(Okuma hassasiyeti): ±8μm/1nm; ±80μm/10nm; ±400μm/50nm; ±800μm/100nm
• Ölçülen parametreler: Ra; Rz; Rmax; Rt; Rq; Rsk; lmo; lo; Rdq; da; ln; La; Lq; Rz-ISO; R3z; Rpm; Rp3z; R3zm; Rp; D; RPc; RSm;   
    Rpm/R3z; lr; Rku; tpif; tpia; tpip; tpic; Rt/Ra; Rz1; Rz2; Rz3; Rz4; Rz5; Rmr; Rmr%; Api, Rpk*; Rpk; Rk; Rvk*;
      Rvk; Mr1;  Mr 2; A1; A2; Vo(70%)0.01* Rv/Rk, Pt´; Pp; Pz; Pa; Pq; Psk; PSm; Pdq; lp; Pku; tpaf; tpaa; tpab; tpac; Pmr0; APa; APa%;
      Pmr; Pmr%, Wt´; Wp; Wz; Wa; Wq; Wsk; WSm; Wdq; lw; Wku R; Rx; AR; Nr; W; Wx; AW; Nw; Wte; Tpaf(CR, CL, CF) Rz-JIS; Rmax-JIS
•Ölçüm programlarını dokunmatik ekrandan oluşturma
•30 Ölçüm programı
• İstatistik fonksiyonlu (n, x, S, R, max, min) Her ölçüm programındaki 1 ila 999 ölçüm için
•Ölçüm sonuçlarını elektronik olarak arşivleyebilme
• Waveline 20 tarama ünitesi

       •Tarama uzunluğu: 20mm
       •Gayıd düzlüğü 0.2µ / 20mm
       •Yüzey sıfırını otomatik bulduran motorize prob pozisyonlama sistemi
      •Probun kendinden ayar aralığı ±2º
       •Tarama kafasına entegre start butonu

•  RNDH2 pürüzlülük plakası (yaklaşık Ra 3.2µm Rz 10.0µm)
•  TKU 300/600 pürüzlülük pick-up seti (değiştirilebilir iğne tipi uçlu)
          • Ölçüm aralığı : Standart uç ile ±300µm, uzun uç TS2 ile ±600µm
      • 4 adet ölçüm ucu dahil